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      車規級芯片AEC-Q100測試標準簡介

      車規級芯片AEC-Q100測試標準簡介

      AEC是Automotive Electronics Council汽車電子協會的簡稱,并且AECQ標準包括以下幾個領域,目前見到的比較多的是AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q200。對于不同領域的電子器件,適用于不同的標準。

      應用框圖

      AEC是Automotive Electronics Council汽車電子協會的簡稱,并且AECQ標準包括以下幾個領域,目前見到的比較多的是AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q200。對于不同領域的電子器件,適用于不同的標準。第一版AEC標準是1994年推出的,100針對集成電路,101針對分離元件,102針對光電元件,104針對MCM模塊,200針對被動元件。

      AEC-Q100是AEC的第一個標準,主要是針對車載應用的集成電路產品所設計出的一套應力測試標準,此規范對于提升產品信賴性品質保證相當重要。AEC-Q100是預防可能發生各種狀況或潛在的故障狀態,對每一個芯片進行嚴格的質量與可靠度確認,特別對產品功能與性能進行標準規范測試。

      車規級芯片AEC-Q100測試標準簡介

      AEC-Q100 關鍵測試類別包括:

      1、AcceleratedEnvironment Stress (加速環境壓力);

      2、Accelerate LifetimeSimulation (加速壽命仿真);

      3、Packaging/Assembly (封裝/組裝);

      4、Die Fabrication (芯片制程);

      5、ElectricalVerification (電氣驗證);

      6、Defect Screening (不良品篩選);

      7、Cavity PackageIntegrity (腔體封裝完整性)。

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